掃描電鏡是對(duì)樣品表面形態(tài)進(jìn)行測(cè)試的一種大型儀器。電子長(zhǎng)筒械具發(fā)射的電子束在掃描電鏡鏡筒中，通過電磁透鏡聚焦和電場(chǎng)加速，入射到樣品中，束電子與樣品原子核或核外電子發(fā)生多種相互作用，而被散射，引起束電子的運(yùn)動(dòng)方向或能量（或兩者同時(shí)）發(fā)生變化，從而產(chǎn)生各種反映樣品特征的信號(hào)。這些信號(hào)包括二次電子、背散射電子、吸收電子、透射電子、俄歇電子、電子電動(dòng)勢(shì)、陰極熒光、X射線等，這些信號(hào)能夠表征固體表面或內(nèi)部的某些物理或化學(xué)性質(zhì)。它們是各類電子束顯微分析的物理基礎(chǔ)。掃描電鏡可以觀察試樣的各個(gè)區(qū)域的細(xì)節(jié)。廣西日本電子掃描電鏡供應(yīng)商

掃描電鏡較基本的功能是對(duì)各種固體樣品表面進(jìn)行高分辨形貌觀察。大景深圖像是掃描電鏡觀察的特色，例如：生物學(xué)，植物學(xué)，地質(zhì)學(xué)，冶金學(xué)等等。觀察可以是一個(gè)樣品的表面，也可以是一個(gè)切開的面，或是一個(gè)斷面。冶金學(xué)家已興奮地直接看到原始的或磨損的表面。可以很方便地研究氧化物表面，晶體的生長(zhǎng)或腐蝕的缺陷。它一方面可更直接地檢查紙，紡織品，自然的或制備過的木頭的細(xì)微結(jié)構(gòu)，生物學(xué)家可用它研究小的易碎樣品的結(jié)構(gòu)。例如：花粉顆粒，硅藻和昆蟲。另一方面，它可以拍出與樣品表面相應(yīng)的立體感強(qiáng)的照片。廣西日本電子掃描電鏡供應(yīng)商掃描電鏡普遍應(yīng)用于化學(xué)領(lǐng)域的微觀研究。

掃描電鏡主要是觀察物體的表面形貌，能夠直接觀察樣品表面的結(jié)構(gòu)，也可以從各種角度對(duì)樣品進(jìn)行觀察，樣品制備過程簡(jiǎn)單。掃描電鏡有普通掃描電鏡、分析型掃描電鏡和場(chǎng)發(fā)射長(zhǎng)筒械具掃描電鏡。掃描電鏡的制造是依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用。當(dāng)一束高能的人射電子轟擊物質(zhì)表面時(shí)，被激發(fā)的區(qū)域?qū)a(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征x射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子，以及在可見、紫外、紅外光區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。同時(shí)，也可產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng)(聲子)、電子振蕩(等離子體)。

掃描電鏡應(yīng)用范圍：掃描電鏡是一種多功能的儀器,具有很多優(yōu)越的性能,是用途較為普遍的一種儀器。三維形貌的觀察和分析;在觀察形貌的同時(shí),進(jìn)行微區(qū)的成分分析。觀察納米材料。所謂納米材料就是指組成材料的顆粒或微晶尺寸在0.1～100nm范圍內(nèi),在保持表面潔凈的條件下加壓成型而得到的固體材料。納米材料具有許多與晶態(tài)、非晶態(tài)不同的、獨(dú)特的物理化學(xué)性質(zhì)。納米材料有著廣闊的發(fā)展前景,將成為未來材料研究的重點(diǎn)方向。掃描電鏡的一個(gè)重要特點(diǎn)就是具有很高的分辨率,現(xiàn)已普遍用于觀察納米材料。掃描電鏡在觀察形貌的同時(shí),可以進(jìn)行微區(qū)的成分分析。

掃描電鏡應(yīng)用范圍：在大視場(chǎng)、低放大倍數(shù)下觀察樣品。用掃描電鏡觀察試樣的視場(chǎng)大。在掃描電鏡中,能同時(shí)觀察試樣的視場(chǎng)范圍F由下式來確定:F=L/M，式中F——視場(chǎng)范圍;M——觀察時(shí)的放大倍數(shù);L——顯象管的熒光屏尺寸。若掃描電鏡采用30cm(12英寸)的顯象管,放大倍數(shù)15倍時(shí),其視場(chǎng)范圍可達(dá)20mm。大視場(chǎng)、低倍數(shù)觀察樣品的形貌對(duì)有些領(lǐng)域是很必要的,如刑事偵察和考古。進(jìn)行從高倍到低倍的連續(xù)觀察。放大倍數(shù)的可變范圍很寬,且不用經(jīng)常對(duì)焦。掃描電鏡的放大倍數(shù)范圍很寬(從5到20萬倍連續(xù)可調(diào)),且一次聚焦好后即可從高倍到低倍,從低倍到高倍連續(xù)觀察,不用重新聚焦,這對(duì)進(jìn)行事故分析特別方便。掃描電鏡是一種介于透射掃描電鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察手段。廣西日本電子掃描電鏡供應(yīng)商

掃描電鏡普遍應(yīng)用于天文地質(zhì)領(lǐng)域的研究。廣西日本電子掃描電鏡供應(yīng)商

掃描電鏡(scanningelectronmicroscope,SEM)是一種用于高分辨率微區(qū)形貌分析的大型精密儀器。具有景深大、分辨率高,成像直觀、立體感強(qiáng)、放大倍數(shù)范圍寬以及待測(cè)樣品可在三維空間內(nèi)進(jìn)行旋轉(zhuǎn)和傾斜等特點(diǎn)。另外具有可測(cè)樣品種類豐富,幾乎不損傷和污染原始樣品以及可同時(shí)獲得形貌、結(jié)構(gòu)、成分和結(jié)晶學(xué)信息等優(yōu)點(diǎn)。目前,掃描電鏡已被普遍應(yīng)用于生命科學(xué)、物理學(xué)、化學(xué)、司法、地球科學(xué)、材料學(xué)以及工業(yè)生產(chǎn)等領(lǐng)域的微觀研究,但在地球科學(xué)方面就包括了結(jié)晶學(xué)、礦物學(xué)、礦床學(xué)、沉積學(xué)、地球化學(xué)、寶石學(xué)、微體古生物、天文地質(zhì)、油氣地質(zhì)、工程地質(zhì)和構(gòu)造地質(zhì)等。廣西日本電子掃描電鏡供應(yīng)商

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